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納米顆粒跟蹤分析儀

納米顆粒跟蹤分析儀

產(chǎn)品型號： ZetaView

所屬分類：分析儀

產(chǎn)品時(shí)間：2023-10-28

簡要描述：納米顆粒跟蹤分析儀
Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計(jì)數(shù)分析得到。

詳細(xì)說明：

納米顆粒跟蹤分析儀
Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實(shí)，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來。此
外，顆粒濃度也可以通過視頻計(jì)數(shù)分析得到。檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。

 

測量范圍

測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。

 

源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)

顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑。可檢測的最小濃度為105粒子/cm3，最大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，最大體積濃度為1000ppm。

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。



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